- N +

GB/T12085.17-2011光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第17部分污染、太陽輻射綜合試驗

檢測報告圖片樣例

標準簡介:本標準規(guī)定了污染、太陽輻射綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記,適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。

標準號:GB/T 12085.17-2011

標準名稱:光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第17部分 污染、太陽輻射綜合試驗

英文名稱:Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 17:Combined contamination,solar radiation

標準類型:國家標準

標準性質(zhì):推薦性

標準狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2011-06-16

實施日期:2011-11-01

中國標準分類號(CCS):儀器、儀表>>光學儀器>>N30光學儀器綜合

國際標準分類號(ICS):成像技術>>37.020光學設備

替代以下標準:替代GB/T 12085.17-1995

起草單位:上海理工大學、寧波永新光學股份有限公司、江南永新光學有限公司、南京東利來光電實業(yè)有限公司等

歸口單位:全國光學和光子學標準化技術委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

返回列表
上一篇:GB/T12085.16-2010光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗
下一篇:GB/T15872-1995半導體設備電源接口