標(biāo)準(zhǔn)簡介：本規(guī)范規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路蝕刻型雙列封裝引線框架的技術(shù)要求及檢驗(yàn)規(guī)則。本規(guī)范適用于半導(dǎo)體集成電路塑料雙列封裝引線框架，其他封裝形式引線框架也可參照使用。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 15877-1995

標(biāo)準(zhǔn)名稱：蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范

英文名稱：Specification of DIP leadframes produced by etching

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：1995-01-02

實(shí)施日期：1996-08-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 15877-2013代替

起草單位：寧波集成電路件廠

歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。