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GB/T15877-2013半導(dǎo)體集成電路蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范

檢測報告圖片樣例

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 15877-2013

標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體集成電路 蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2013-12-31

實施日期:2014-08-15

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 15877-1995

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

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