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GB/T15879.4-2019半導(dǎo)體器件的機械標準化第4部分:半導(dǎo)體器件封裝外形的分類和編碼體系

檢測報告圖片樣例

標準簡介:GB/T 15879的本部分規(guī)定了半導(dǎo)體器件的封裝外形分類和命名方法,以及為半導(dǎo)體器件封裝生成通用描述性命名的系統(tǒng)方法。?? 本描述性命名方法提供了一種有用的交流工具,但并不確保相同編碼的封裝具有互換性。

標準號:GB/T 15879.4-2019

標準名稱:半導(dǎo)體器件的機械標準化 第4部分:半導(dǎo)體器件封裝外形的分類和編碼體系

英文名稱:Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 4:Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packages

標準類型:國家標準

標準性質(zhì):推薦性

標準狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2019-08-30

實施日期:2019-12-01

中國標準分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合

國際標準分類號(ICS):電子學(xué)>>31.080半導(dǎo)體器件

起草單位:中國電子科技集團公司第十三研究所

歸口單位:全國半導(dǎo)體器件標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 78)

發(fā)布單位:國家市場監(jiān)督管理總局.

檢測流程步驟

檢測流程步驟

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