GB/T 26178-2010/CIE 84- 1989.The measurement of luminous flux.
測量中當(dāng)光源或探頭連續(xù)移動時,由于空間變化或交流供電時光源輸出的瞬時變化,光度探頭處的照度會隨之變化。因此,只有當(dāng)光源和探頭在測試過程中保持穩(wěn)定時,才能達到局部照度的精確測量。
這種方法需要很長的測試時間,因此通常是不可行的。
測量指定面元或指定方向上(由角度ε和η確定)“正確”照度的方法不同且不能粗略描述。總的來說,測量精度明顯受以下因素影響:角度步長Oe和On,角速度de/dt和dn/dt,照度計的積分時間(50 Hz,交流供電的情況下>20 ms)。
式(9)中給出的照度積分可通過以下方式獲得:
一在計算出整個球面的照度分布后,以光通量形式給出直接的采集電信號;
一測量光度探頭在各個位置上的照度值,可用計算機存儲和計算這些數(shù)據(jù)。
在直接信號采集中,E的正弦照度的權(quán)重消息是用正弦電量計讀取,見式(9)。即使這些電位計使用了精密件,當(dāng)ε值較小時,仍可能出現(xiàn)較大誤差,因此而降低了測量光強分布變化較大的光源的精確度。所以,角度步長相等的情況下,計算值通常比直接信號采集要更精確。在數(shù)值計算中,也可以得出立體角某-截面的局部光通量,如頂部或底部半球。
5.7雜散光
應(yīng)避免雜散光(由光源間接到達光度計探頭的光)。將分布光度計置于暗室中可避免雜散光。也可以在光源后面放置一個光陷阱(可以被光度計探頭看到),使它與光度計探頭一起移動。光度探頭應(yīng)評價未被光源遮住的立體角發(fā)出的光,為了使探頭靈敏度降至較低,可以在光度計探頭前放置一-個尺寸適當(dāng)、內(nèi)部涂黑的遮擋支架。在光源和光度探頭之間放置-個黑擋屏,完全遮住光源且隨探頭一起移動,用這個黑擋屏來對光通量進行附加測量,可以使大部分的雜散光被測到。這種方式測得的光通量是只有雜散光的光通量,因此應(yīng)該從不帶罩的光通量測量值中減去。更多有關(guān)使用分布光度計測量光通量時消除雜散光的信息,參見參考文獻[20].
5.8被遮擋 的光通量
在一個很小的立體角內(nèi),-部分光源發(fā)出的光可能會被分布光度計的機械部件遮擋住,使得這些光不能被光度探頭接收到。
如果由于從光源發(fā)出的光通量受到機械部件的遮擋不足時,可以使用高反射率的覆蓋層將遮擋部件蓋住。
如果由于分布光度計的結(jié)構(gòu)原因,而使得光度探頭無法被放置在立體角-個有限的小區(qū)域內(nèi),從而無法測量此區(qū)域的照度分布,那么這個區(qū)域的輻射光通量就會被遮擋。這種情況下,通過推算出立體角包含的這一區(qū)域內(nèi)的照度分布就可對測量結(jié)果進行修正。對遮擋物影響的計算方法詳見參考文獻[12]。
5.9 誤差來源概要
評價來自照度分布的光通量時的不確定性源于:
檢測流程步驟
溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。