GB/T 12822-1991.Geormetric conditlons for photographic reflection density measurement.
4.2采樣孔
儀器的光學(xué)系統(tǒng)的幾何狀態(tài)確定了試樣的測(cè)量區(qū)域,這一確定的區(qū)域稱為采樣孔。采樣孔應(yīng)由探測(cè)器所探測(cè)的角度范圍來(lái)確定。如果在試樣平面上放置-一個(gè)機(jī)械孔,則其面積應(yīng)大于采樣孔,它的邊界至少應(yīng)位于采樣孔邊界2 mm之外的位置。
探測(cè)器對(duì)采樣孔內(nèi)每--點(diǎn)的響應(yīng)度應(yīng)該相同,而且對(duì)采樣孔之外點(diǎn)的響應(yīng)度為零?？赏ㄟ^(guò)一一個(gè)小而穩(wěn)定的輻射源放在采樣孔及其周園的不同點(diǎn)上,測(cè)量探測(cè)器的響應(yīng)度變化。該光源的面積應(yīng)等于采樣孔面積的1/10。
當(dāng)光源位于采樣孔內(nèi)的任-一點(diǎn)上時(shí),探測(cè)器的響應(yīng)度都不應(yīng)小于較大值的90%,當(dāng)光源位于采樣孔周圍的任一點(diǎn)時(shí),探測(cè)器的響應(yīng)度應(yīng)不大于光源位于采樣孔內(nèi)較大值的0.1%。
采樣孔的較大尺寸取決于測(cè)量反射因數(shù)或反射密度所用探測(cè)器的光學(xué)系統(tǒng)的尺寸。只要采樣孔內(nèi)每一點(diǎn)都滿足4.4和4.5條中規(guī)定的條件,可以采用任何尺寸的采樣孔。但是它不能小到不得不考慮粒度、試樣表面結(jié)構(gòu)和衍射效應(yīng)的程度。對(duì)于均勻性不好的試樣,應(yīng)該規(guī)定采樣孔的尺寸(由生產(chǎn)和應(yīng)用部門自定)。
4.3照射面積
試樣被照射的面積應(yīng)該大于采樣孔徑,而且它的邊界應(yīng)至少位于采樣孔邊界2mm之外。較理想的情況,在被照射面積上的照度應(yīng)是均勻的。由一個(gè)光電探測(cè)器測(cè)量該照度的均勻性,要求探測(cè)器的孔徑形狀與采樣孔相似，而尺寸為采樣孔的1/4。
在被照射面積上任意一點(diǎn)上的照度至少應(yīng)為較大值的90%。
4.4環(huán)狀發(fā)布
入射光束輻亮度的角分布或者探測(cè)器響應(yīng)度的角分布應(yīng)在與采樣孔中心的法線夾45°角時(shí)取較大值,而在與該法線的夾角小于40°或者大于50°的圓上任何- .點(diǎn)的值應(yīng)小到可以忽略的程度。應(yīng)采用GB/T12823--91中5.2條規(guī)定的函數(shù)表示法表示入射通量的環(huán)狀分布。
用下列方法可以測(cè)量探測(cè)器響應(yīng)度的角分布:一個(gè)小孔光欄放置在試樣平面上,在給定距離上用一個(gè)尺寸合適的穩(wěn)定光源照射，移動(dòng)光源改變探測(cè)器的照明角,并記下相應(yīng)的響應(yīng)值。
對(duì)于模擬纖維表面結(jié)構(gòu)而模壓成型的材料，如果環(huán)狀照射或者環(huán)狀探測(cè)沿方位角不均勻時(shí)，則測(cè)得的密度值與試樣表面結(jié)構(gòu)方位角的取向有關(guān)。若將試樣在其自身平面(X-Y平面)內(nèi)繞z軸旋轉(zhuǎn),如果

檢測(cè)流程步驟

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