GB/T 39269-2020.Voltage dip and short interruption-Immunity testing method for low voltage equipment.
1 范圍
GB/T 39269規(guī)定了低壓設(shè)備的電壓暫降和短時(shí)中斷耐受特性測(cè)試維度、受試設(shè)備性能判據(jù)、試驗(yàn)設(shè)備、測(cè)試布置、測(cè)試要求、測(cè)試流程和測(cè)試結(jié)果,報(bào)告與數(shù)據(jù)格式。
GB/T 39269適用于額定電壓不超過(guò)1 kV ,額定頻率50 Hz的電氣設(shè)備。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 17626.11-2008電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.34-2012電磁兼容試驗(yàn) 和測(cè)量技術(shù)主電源 每相電流大于16 A的設(shè)備的電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)
GB/T 30137-2013電 能質(zhì)量電壓暫降 與短時(shí)中斷
GB/T 32507-2016 電 能質(zhì)量術(shù)語(yǔ)
3術(shù)語(yǔ)和定義
GB/T 17626.34-2012、GB/T 30137-2013和GB/T 32507-2016 界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。為了便于使用,以下重復(fù)列出了GB/T 17626. 34- 2012、 GB/T 30137-2013和GB/T 32507-2016中的一些術(shù)語(yǔ)和定義。
3.1
電壓暫降 voltage dip( sag)
電力系統(tǒng)中某點(diǎn)工頻電壓方均根值突然降低至0.1 p.u.~0.9 p.u.,并在短暫持續(xù)10 ms~1 min后恢復(fù)正常的現(xiàn)象。
[GB/T 30137-2013,定 義3.1]
3.2
短時(shí)中斷 short interruption
電力系統(tǒng)中某點(diǎn)工頻電壓方均根值突然降低至0.1 p.u.以下 ,并在短暫持續(xù)10 ms~1 min后恢復(fù)正常的現(xiàn)象。
[GB/T 30137-2013,定 義3.2]
3.3
電壓暫降耐受[特]性 voltage dip immunity
電氣設(shè)備在其供電電源發(fā)生電壓暫降時(shí)仍能保持正常工作的能力。
注:改寫(xiě)GB/T 32507-2016,定義2.8.2.

檢測(cè)流程步驟

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