GB/T 39227-2020.Immunity time testing method under voltage dip for sensitive process rated less than 1 000 V.
1范圍
GB/T 39227規(guī)定了1000V以下敏感過程電壓暫降免疫時(shí)間測(cè)試的試驗(yàn)設(shè)備、測(cè)試內(nèi)容、試驗(yàn)布置、測(cè)試方法、測(cè)試流程以及測(cè)試結(jié)果和測(cè)試報(bào)告要求。
GB/T 39227適用于連接于50 Hz公用電網(wǎng)的電壓低于1 000 V的對(duì)電壓暫降敏感的工業(yè)過程。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的測(cè)試方法同樣適用于短時(shí)中斷事件。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 17626.11-2008電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.34-2012電磁兼容 試驗(yàn) 和測(cè)量技術(shù)主電 源每相電流大于16 A的設(shè)備的電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)
GB/T 30137-2013電能質(zhì)量 電壓暫降 與短時(shí)中斷
GB/T 32507- 2016電能 質(zhì)量術(shù)語
3術(shù)語和定義
GB/T 30137-2013和GB/T 32507-2016界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。為了便于使用,以下重復(fù)列出了GB/T 30137-2013和GB/T 32507-2016的某些術(shù)語和定義。
3.1
電能質(zhì)量 power quality ;quality of power system
電力系統(tǒng)指定點(diǎn)處的電特性，關(guān)系到供電設(shè)備正常工作(或運(yùn)行)的電壓、電流的各種指標(biāo)偏離基準(zhǔn)技術(shù)參數(shù)的程度。
注:基準(zhǔn)技術(shù)參數(shù)一般是理想供電狀態(tài)下的指標(biāo)值,這些參數(shù)可能涉及供電與負(fù)荷間的兼容性。
[GB/T 32507-2016,定義2.1.1]
3.2
電壓暫降 voltage dip(sag)
電力系統(tǒng)中某點(diǎn)工頻電壓方均根值突然降低至0.1 p.u.~0.9 p.u.,并在短暫持續(xù)10 ms~1 min后恢復(fù)正常的現(xiàn)象。
[GB/T 30137-2013,定義3.1]

檢測(cè)流程步驟

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