檢測(cè)報(bào)告圖片

射頻識(shí)別產(chǎn)品第三方檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)方法是什么？實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)IEC 10536-3:1996識(shí)別卡 無接觸點(diǎn)集成電路卡 近耦合卡 第3部分:電信號(hào)和復(fù)位規(guī)程檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范中的試驗(yàn)方法，對(duì)射頻識(shí)別產(chǎn)品空中接口檢測(cè)等項(xiàng)目進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。

檢測(cè)對(duì)象

射頻識(shí)別產(chǎn)品

檢測(cè)項(xiàng)目

空中接口檢測(cè)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

IEC 10536-3:1996識(shí)別卡 無接觸點(diǎn)集成電路卡 近耦合卡 第3部分:電信號(hào)和復(fù)位規(guī)程檢測(cè)

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

ISO/IEC 10536-3：1996識(shí)別卡-非接觸集成電路卡 第3部分：電信號(hào)和復(fù)位規(guī)程 ISO/IEC 10536-3：1996 7

ISO/IEC 10536-3：1996識(shí)別卡-非接觸集成電路卡 第3部分：電信號(hào)和復(fù)位規(guī)程 ISO/IEC 10536-3：1996 6

ISO/IEC 10536-3：1996識(shí)別卡-非接觸集成電路卡 第3部分：電信號(hào)和復(fù)位規(guī)程 ISO/IEC 10536-3：1996 5

ISO/IEC 10536-3：1996識(shí)別卡-非接觸集成電路卡 第3部分：電信號(hào)和復(fù)位規(guī)程 ISO/IEC 10536-3：1996

ISO/IEC15693-2-2006識(shí)別卡 無接觸點(diǎn)集成電路卡 接近式卡 第2部分:空中接口和初始化 ISO/IEC15693-2-2006

ISO/IEC15693-2-2006識(shí)別卡 無接觸點(diǎn)集成電路卡 接近式卡 第2部分:空中接口和初始化

GB/T16649.3-20064識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡第3部分： 電信號(hào)和傳輸協(xié)議

ISO/IEC10536-3：1996識(shí)別卡-非接觸集成電路卡 第3部分：電信號(hào)和復(fù)位規(guī)程 ISO/IEC10536-3：1996

ISO/IEC14443-2-2010識(shí)別卡 無接觸點(diǎn)集成電路卡 感應(yīng)卡 第2部分:射頻功率和信號(hào)接口

ISO/IEC 18000-7, 2009 10., ISO/IEC 10536-39.信息技術(shù)——用于物品管理的射頻識(shí)別技術(shù) 第7部分：在433 MHz 通信的主動(dòng)空中接口的參數(shù) ISO/IEC 18000-7:2009 10.識(shí)別卡 無接觸點(diǎn)集成電路卡 近耦合卡 第3部分:電信號(hào)和復(fù)位規(guī)程 ISO/IEC 10536-3:1996

我們也可根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案，如果您對(duì)射頻識(shí)別產(chǎn)品檢測(cè)有嚴(yán)格要求，不妨考慮選擇我們。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般射頻識(shí)別產(chǎn)品空中接口檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供射頻識(shí)別產(chǎn)品空中接口檢測(cè)服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。