參考答案：

瞬態(tài)熱阻測(cè)試檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)DB52/T 1104-2016 半導(dǎo)體器件結(jié)-殼熱阻瞬態(tài)測(cè)試方法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對(duì)樣品檢測(cè)的瞬態(tài)熱阻測(cè)試等項(xiàng)目進(jìn)行檢測(cè)分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的瞬態(tài)熱阻測(cè)試報(bào)告。

檢測(cè)項(xiàng)目

瞬態(tài)熱阻測(cè)試等。

適用范圍

二*管、功率器件、半導(dǎo)體、晶體管等。

相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

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冷卻曲線法測(cè)試原理

通過對(duì)被測(cè)器件施加一恒定的加熱功率，使被測(cè)器件的管芯溫度升高，達(dá)到熱平衡后，切斷加熱功率，不斷測(cè)試被測(cè)器件的結(jié)溫，直至達(dá)到冷態(tài)平衡，作出結(jié)溫隨時(shí)間的變化曲線，利用結(jié)溫隨時(shí)間的變化曲線計(jì)算出瞬態(tài)熱阻抗ZthU-c曲線;通過給被測(cè)器件的管殼施加兩種不同的散熱方式，作出兩條瞬態(tài)熱阻抗zthu-c曲線，將兩條瞬態(tài)熱阻抗Zthu-c)曲線繪制在同一坐標(biāo)系中，兩條瞬態(tài)熱阻抗Zthu-o曲線的分離點(diǎn)的Zthu-0即為半導(dǎo)體器件結(jié)-殼熱阻RthUc)。

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