參考答案：

檢測項目：

全部參數(shù),低溫,外觀質(zhì)量,絕緣電阻,尺寸,壽命,引線帶彎曲,*大機械負荷能力,耐壓,剝離強度,溫度變化,恒定濕熱,按鍵力,回線電阻,接觸不穩(wěn)定時間,高溫貯存

檢測標準：

1、GB/T 2423.1-2008 薄膜鍵盤技術條件

2、JB/T 5405-1991 薄膜鍵盤技術條件 JB/T 5405-1991

3、GB/T5095.2-1997 薄膜鍵盤技術條件

4、JB/T 5405-1991 薄膜鍵盤技術條件

5、GB/T 2423.2-2008 薄膜鍵盤技術條件

6、GB/T2792-2014 薄膜鍵盤技術條件

7、GB/T2423.3-2016 薄膜鍵盤技術條件

8、GB/T2423.22-2012 薄膜鍵盤技術條件

9、GB/T2423.1-2008 薄膜鍵盤技術條件

10、GB/T 5095.2-1997 薄膜鍵盤技術條件

11、GB/T 2792-2014 薄膜鍵盤技術條件

12、GB/T 2423.22-2012 薄膜鍵盤技術條件

13、JB/T5405-1991 薄膜鍵盤技術條件

14、GB/T2423.2-2008 薄膜鍵盤技術條件

15、GB/T 2423.3-2016 薄膜鍵盤技術條件

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。