報(bào)告類型： 【接觸電阻檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)
報(bào)告資質(zhì)： CMA；CNAS
檢測周期： 3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外）
服務(wù)地區(qū)： 全國，實(shí)驗(yàn)室就近分配
檢測用途： 電商平臺入駐；商超賣場入駐；產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)；產(chǎn)品認(rèn)證；出口通關(guān)檢驗(yàn)等
樣品要求： 樣品支持快遞取送/上門采樣，數(shù)量及規(guī)格等視檢測項(xiàng)而定
檢測報(bào)告圖片
接觸電阻檢測CMA報(bào)告成分分析檢測中心可以為您提供材料成分分析、指標(biāo)檢測、性能測試等服務(wù)。檢測報(bào)告可以提高消費(fèi)者對您產(chǎn)品的信賴。
檢測項(xiàng)目
接觸電阻等。
檢測范圍
繼電器、觸頭、電纜、探針、端子、銅排、導(dǎo)線、排線、鑄鐵、隔刀、零線等。
檢測標(biāo)準(zhǔn)
JJG1129-2016鐵路輪對接觸電阻檢測儀檢定規(guī)程
GB/T15078-2021貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測量方法
GB/T40007-2021納米技術(shù)納米材料電阻率的接觸式測量方法通則
GB/T6616-2009半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法非接觸渦流法
T/IAWBS013-2019半絕緣碳化硅單晶片電阻率非接觸測量方法
T/IAWBS011-2019導(dǎo)電碳化硅單晶片電阻率測量方法—非接觸渦流法
GB/T15078-2008貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測量方法
SJ/T11487-2015半絕緣半導(dǎo)體晶片電阻率的無接觸測量方法
GJB360.33-1987電子及電氣元件試驗(yàn)方法接觸電阻測試
JB/T6954-2007灰鑄鐵接觸電阻加熱淬火質(zhì)量檢驗(yàn)和評級
SH/T0596-1994潤滑脂接觸電阻測定法
JB/T6954-1993灰鑄鐵接觸電阻加熱淬火質(zhì)量檢驗(yàn)和評級
JB/T6954-2007灰鑄鐵接觸電阻加熱淬火質(zhì)量檢驗(yàn)和評級
檢測報(bào)告有效期
一般接觸電阻檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測費(fèi)用價(jià)格
需要根據(jù)檢測項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測標(biāo)準(zhǔn)而定，請聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。
檢測流程步驟
檢測機(jī)構(gòu)平臺
百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國，檢測領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供接觸電阻檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試服務(wù)。具體請咨詢在線客服。
