資質(zhì):CNAS/CMA
報(bào)告:中文/英文
周期:3-10個(gè)工作日
簡介:(1)當(dāng)產(chǎn)品表面存在微小的異物,而常規(guī)的成分測試方法無法準(zhǔn)確對異物進(jìn)行定性定量分析,可選擇XPS進(jìn)行分析,XPS能分析≥10μm直徑的異物成分以及元素價(jià)態(tài),從而確定異物的化學(xué)態(tài),對失效機(jī)理研究提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
(2)當(dāng)產(chǎn)品表面膜層太薄,無法使用常規(guī)測試進(jìn)行厚度測量,可選擇XPS進(jìn)行分析,利用XPS的深度濺射功能測試≥20nm膜厚厚度。
(3)當(dāng)產(chǎn)品表面有多層薄膜,需測量各層膜厚及成分,利用D-SIMS能準(zhǔn)確測定各層薄膜厚度及組成成分。
(4)當(dāng)產(chǎn)品的表面存在同種元素多種價(jià)態(tài)的物質(zhì),常規(guī)測試方法不能區(qū)分元素各種價(jià)態(tài)所含的比例,可考慮XPS價(jià)態(tài)分析,分析出元素各種價(jià)態(tài)所含的比例。...