報告類型: 【TOF-SIMS分析檢測】電子報告、紙質(zhì)報告(中文報告、英文報告、中英文報告)
報告資質(zhì): CMA;CNAS
檢測周期: 3-10個工作日(特殊樣品除外)
服務(wù)地區(qū): 全國,實驗室就近分配
檢測用途: 電商平臺入駐;商超賣場入駐;產(chǎn)品質(zhì)量改進;產(chǎn)品認證;出口通關(guān)檢驗等
樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門采樣,數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
檢測報告圖片
ASTM E1-2011:報告次級離子質(zhì)譜法(SIMS)中濺射深度截面數(shù)據(jù)的標準實施規(guī)程
ASTM E1438-2011:用次級離子質(zhì)譜法(SIMS)測量深度摻雜分布界面寬度標準指南
TOF-SIMS分析檢測用途
摻雜劑與雜質(zhì)的深度剖析
薄膜的成份及雜質(zhì)測定 (金屬、電介質(zhì)、鍺化硅 、III-V族、II-V族)
超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析
硅材料整體分析,包含B, C, O,以及N
工藝工具(離子植入)的高精度分析
檢測報告有效期
一般TOF-SIMS分析檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間,不會標注有效期。
檢測費用價格
需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定,請聯(lián)系我們確定后報價。
檢測流程步驟
檢測機構(gòu)平臺
百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,檢測領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋,為您提供TOF-SIMS分析檢測服務(wù)。具體請咨詢在線客服。