檢測報告圖片

XPS測試概述

X射線光電子能譜技術(shù)(X-ray photoelectron spectroscopy，簡稱XPS)是一種表面分析方法， 使用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內(nèi)層電子或價電子受激發(fā)射出來，被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量和數(shù)量，從而獲得待測物組成。XPS主要應(yīng)用是測定電子的結(jié)合能來鑒定樣品表面的化學(xué)性質(zhì)及組成的分析，其特點在光電子來自表面10nm以內(nèi)，僅帶出表面的化學(xué)信息，具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點，廣泛應(yīng)用于金屬、無機材料、催化劑、聚合物、涂層材料礦石等各種材料的研究，以及腐蝕、摩擦、潤滑、粘接、催化、包覆、氧化等過程的研究。

檢測項目

元素組成鑒別：給出表面元素組成，鑒別某特定元素的存在性。

化學(xué)態(tài)分析：化學(xué)位移；俄歇參數(shù)；震激峰、多重分裂等伴峰結(jié)構(gòu)；價帶譜結(jié)構(gòu)。

XPS定量分析：確定元素在樣品表面的濃度和元素相對含量。

元素沿深度方向的分布分析：利用Ar離子束濺射法進行樣品的深度分析，得出元素沿樣品深度方向的分布。

檢測報告有效期

一般XPS測試報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間，不會標注有效期。

檢測費用價格

需要根據(jù)檢測項目、樣品數(shù)量及檢測標準而定，請聯(lián)系我們確定后報價。

檢測流程步驟

檢測機構(gòu)平臺

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