檢測(cè)范圍

檢測(cè)中心的實(shí)驗(yàn)室可以提供的快閃存儲(chǔ)器檢測(cè)范圍包括：

NAND閃存、NOR閃存、eMMC、UFS、SD卡、CF卡、SSD、USB閃存、TF卡、XQD卡、CFexpress卡、Memory Stick、SmartMedia卡、PC卡、SLC閃存、MLC閃存、TLC閃存、QLC閃存等。

檢測(cè)項(xiàng)目

快閃存儲(chǔ)器檢測(cè)項(xiàng)目包括以下常見的幾種：

外觀檢查、容量檢測(cè)、讀取速度檢測(cè)、寫入速度檢測(cè)、隨機(jī)讀取檢測(cè)、隨機(jī)寫入檢測(cè)、耐久性檢測(cè)、數(shù)據(jù)完整性檢測(cè)、溫度適應(yīng)性檢測(cè)、電壓適應(yīng)性檢測(cè)、防水防塵性能檢測(cè)、抗震抗摔性能檢測(cè)等。

檢測(cè)方法

外觀檢查：檢查存儲(chǔ)器的外觀，包括外殼是否完整、接口是否正常等，以確保存儲(chǔ)器沒有物理損壞。

容量檢測(cè)：使用的存儲(chǔ)器檢測(cè)工具，對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行容量檢測(cè)，以驗(yàn)證存儲(chǔ)器的容量是否與標(biāo)稱容量一致。

讀取速度檢測(cè)：使用存儲(chǔ)器性能檢測(cè)工具，對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行讀取速度檢測(cè)，以評(píng)估存儲(chǔ)器的讀取性能。

寫入速度檢測(cè)：使用存儲(chǔ)器性能檢測(cè)工具，對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行寫入速度檢測(cè)，以評(píng)估存儲(chǔ)器的寫入性能。

隨機(jī)讀取檢測(cè)：通過連續(xù)隨機(jī)讀取存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)，以評(píng)估存儲(chǔ)器在處理隨機(jī)讀取操作時(shí)的性能表現(xiàn)。

隨機(jī)寫入檢測(cè)：通過連續(xù)隨機(jī)寫入數(shù)據(jù)到存儲(chǔ)器中，以評(píng)估存儲(chǔ)器在處理隨機(jī)寫入操作時(shí)的性能表現(xiàn)。

耐久性檢測(cè)：通過反復(fù)進(jìn)行大容量數(shù)據(jù)讀寫操作，以評(píng)估存儲(chǔ)器的耐久性和長(zhǎng)期使用穩(wěn)定性。

數(shù)據(jù)完整性檢測(cè)：對(duì)存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取和校驗(yàn)，以確保存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)完整無誤。

溫度適應(yīng)性檢測(cè)：將存儲(chǔ)器暴露在不同溫度環(huán)境下，觀察存儲(chǔ)器的性能和穩(wěn)定性。

電壓適應(yīng)性檢測(cè)：在不同電壓條件下對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行檢測(cè)，以驗(yàn)證存儲(chǔ)器對(duì)電壓變化的適應(yīng)性。

防水防塵性能檢測(cè)：對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行防水和防塵性能檢測(cè)，以確保存儲(chǔ)器在惡劣環(huán)境下的可靠性。

抗震抗摔性能檢測(cè)：對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行抗震和抗摔性能檢測(cè)，以驗(yàn)證存儲(chǔ)器在意外撞擊或震動(dòng)中的可靠性。

檢測(cè)周期

一般7-10個(gè)工作日出具報(bào)告，可加急。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 35003-2018非易失性存儲(chǔ)器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗(yàn)方法

GB/T 35008-2018串行NOR型快閃存儲(chǔ)器接口規(guī)范

GB/T 35009-2018串行NAND型快閃存儲(chǔ)器接口規(guī)范

GB/T 36477-2018半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲(chǔ)器檢測(cè)方法

GB/T 42974-2023半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲(chǔ)器(FLASH)

HJ 2510-2012環(huán)境標(biāo)志產(chǎn)品技術(shù)要求 錄音筆

SJ/T 11585-2016串行存儲(chǔ)器接口要求

SJ/T 11701-2018通用NAND型快閃存儲(chǔ)器接口

SJ/T 11790-2021固態(tài)盤能耗檢測(cè)方法

檢測(cè)流程步驟

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