2024-07-19

紅外發(fā)射管檢測

檢測中心提供的

的適用樣品包括：直射型紅外發(fā)射管、反射型紅外發(fā)射管、醫(yī)療儀器紅外發(fā)射管、空間光通信紅外發(fā)射管、紅外照明紅外發(fā)射管、電器的遙控紅外發(fā)射管等。

檢測項目：

光電轉(zhuǎn)換效率、結溫、熱阻、反向電壓、反向電流、輻射功率、輻射強度、峰值發(fā)射波長、光譜輻射帶寬、輻射通量、調(diào)制帶寬、響應時間、輻射強度空間分布、半強度角、串聯(lián)電阻、正向電壓、總電容、輻射功率溫度系數(shù)等。

GB/T 18904.1-2002 半導體器件第12-1部分;光電子器件纖維光學系統(tǒng)或子系統(tǒng)用帶/不帶尾纖的光發(fā)射或紅外發(fā)射二極管空白詳細規(guī)范

SJ/T 2658.16-2016 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第16部分:光電轉(zhuǎn)換效率

SJ/T 2658.14-2016 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第14部分：結溫

SJ/T 2658.15-2016 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第15部分：熱阻

SJ/T 2658.3-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法.第3部分:反向電壓和反向電流

SJ/T 2658.6-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第6部分:輻射功率

SJ/T 2658.8-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第8部分:輻射強度

SJ/T 2658.12-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第12部分:峰值發(fā)射波長和光譜輻射帶寬

SJ/T 2658.7-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第7部分:輻射通量

SJ/T 2658.1-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第1部分:總則

SJ/T 2658.10-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第10部分:調(diào)制帶寬

SJ/T 2658.11-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第11部分:響應時間

SJ/T 2658.9-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第9部分:輻射強度空間分布和半強度角

SJ/T 2658.5-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第5部分:串聯(lián)電阻

SJ/T 2658.2-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第2部分:正向電壓

SJ/T 2658.4-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第4部分:總電容

SJ/T 2658.13-2015 半導體紅外發(fā)射二極管測量方法第13部分:輻射功率溫度系數(shù)

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。

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