低溫檢測標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007。只做：溫度≥-70℃。

高溫檢測標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 GB/T 2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007。只做：溫度≤300℃。

濕熱試驗標準：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012，IEC 60068-2-67:1995。只做：溫度(10～95)℃,濕度：(20～98)%RH

4、交變濕熱試驗：

5、振動試驗：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)和導則 GB/T 2423.56-2006，IEC60068-2-64:1993。只做：頻率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,載荷≤3000kg。

6、溫度變化試驗：

7、溫度/濕度組合循環(huán)試驗：

8、跌落試驗：

9、機械沖擊試驗：

10、碰撞試驗：

11、傾跌與翻倒：

12、砂塵試驗：

13、鹽霧試驗：

人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006;

14、溫度沖擊試驗：

15、IP防護等級(外殼防護試驗)：

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導則：GB/T 2423.38-2008，IEC60068-2-18:2000。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合 GB/T2423.59-2008。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合 GB/T2423.102-2008。

設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案：GB/T 5080.7-1986，IEC60605-7:1978;

設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案：GB/T 5080.5-1985，IEC 60605-5:1982;

可靠性試驗 第2部分：試驗周期設(shè)計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994;

可靠性試驗 第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。