硅片電阻率檢測什么單位可以做?檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測實驗室可依據(jù)GB/T 29055-2019 太陽能電池用多晶硅片等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗方案。對硅片檢測的電阻率等項目進(jìn)行檢測分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的硅片電阻率檢測報告。

檢測項目

表面薄膜厚度、密度測試、翹曲度測試、表面粗糙度、電阻率、電阻、徑向電阻率變化等等。

適用范圍

單晶硅片、多晶硅片、半導(dǎo)體材料用硅片等。

相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的測試 光學(xué)反射法

GB/T 29055-2019 太陽能電池用多晶硅片

GB/T 37051-2018 太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測試方法

GB/T 32280-2015 硅片翹曲度測試 自動非接觸掃描法

GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測試方法

GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法

GB/T 11073-2007 硅片徑向電阻率變化的測量方法

GB/T 15615-1995 硅片抗彎強度測試方法

GB/T 6616-1995 半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層 電阻測試 非接觸渦流法

GB/T 6617-1995 硅片電阻率測試 擴展電阻探針法

GB/T 11073-1989 硅片徑向電阻率變化的測量方法

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。