項(xiàng)目介紹

使用雙工位微跌落試驗(yàn)可以對(duì)微小電子產(chǎn)品進(jìn)行部分可靠性功能測(cè)試，微跌落試驗(yàn)采用氣動(dòng)治具夾持測(cè)試產(chǎn)品，電機(jī)驅(qū)動(dòng)上升到設(shè)定的跌落高度，模擬產(chǎn)品往復(fù)跌落測(cè)試。

適用范圍

微跌落試驗(yàn)適用于手機(jī)、POS機(jī)、平板電腦、藍(lán)牙音箱、電話機(jī)聽筒、對(duì)講機(jī)、U盤、學(xué)習(xí)機(jī)等小型電子消費(fèi)類產(chǎn)品的能夠滿足樣品棱、角、面的跌落測(cè)試，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)手動(dòng)功能。

試驗(yàn)原理

先把產(chǎn)品如手機(jī)放入到跌落夾具內(nèi)，調(diào)整好合適的大小位置，步進(jìn)電機(jī)帶動(dòng)真空吸盤將手機(jī)吸住，上升后松開吸盤，手機(jī)成自由跌落運(yùn)動(dòng)，如此反復(fù)直至設(shè)定次數(shù)。

測(cè)試方式

定向跌落、自由跌落、重復(fù)跌落、滾筒跌落四種跌落方式。

試驗(yàn)產(chǎn)品如手機(jī)，樣品機(jī)插SIM 卡，并裝配電池，手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。將樣品放置在垂直跌落試驗(yàn)儀上，將高度調(diào)到 1.0m ，進(jìn)行垂直跌落測(cè)試。每個(gè)面各測(cè) 2 次，共跌落12 次。跌落測(cè)試后，*先對(duì)樣品進(jìn)行外觀、功能，結(jié)構(gòu)檢測(cè)，記錄測(cè)試狀態(tài)后，再進(jìn)行拆機(jī)檢測(cè)。

試驗(yàn)樣機(jī)插SIM 卡，并裝配電池，手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。 將樣品放置在 0.5m 的滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)中，進(jìn)行跌落測(cè)試，每 50 次對(duì)手機(jī)的外觀，功能，結(jié)構(gòu)做檢測(cè)，累計(jì)跌落300 次循環(huán)。 測(cè)試完成后，對(duì)手機(jī)進(jìn)行功能，結(jié)構(gòu)，裝配檢測(cè)（要求必須拆機(jī)檢查）。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。