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復(fù)合材料失效分析測(cè)試

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

基本介紹

隨著生產(chǎn)和科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,越來越多的復(fù)合材料廣泛應(yīng)用于我們的生活。因?yàn)閺?fù)合材料熱穩(wěn)定性好、比強(qiáng)度/比剛度高、抗疲勞性能好等諸多優(yōu)點(diǎn),故其廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車工業(yè)、制造業(yè)及醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,而技術(shù)的全新要求和產(chǎn)品的高要求化,但客戶對(duì)高要求產(chǎn)品及工藝?yán)斫獠灰?,于是?fù)合材料斷裂、開裂、爆板分層、腐蝕等之類失效頻繁出現(xiàn),常引起供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛,所以導(dǎo)致了嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。目前進(jìn)而越來越多的企業(yè)、單位對(duì)于復(fù)合材料失效分析有了一個(gè)全面的認(rèn)識(shí),因?yàn)橥ㄟ^失效分析手段,可以查找產(chǎn)品失效的根本原因及機(jī)理,從而提高產(chǎn)品質(zhì)量、工藝改進(jìn)及責(zé)任仲裁等方面。

服務(wù)對(duì)象

復(fù)合材料生產(chǎn)廠商:通過失效分析,查找產(chǎn)品失效產(chǎn)生可能原因的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、工藝、儲(chǔ)存、運(yùn)輸?shù)入A段,深究產(chǎn)品失效機(jī)理,為提升產(chǎn)品良率及優(yōu)化生產(chǎn)工藝方面提供理論依據(jù)。經(jīng)銷商或代理商:及時(shí)為其來料品質(zhì)進(jìn)行有效管控,為產(chǎn)品品質(zhì)責(zé)任進(jìn)行公正界定提供依據(jù)。整機(jī)用戶:跟進(jìn)并對(duì)產(chǎn)品工藝及可靠性提供改進(jìn)意見,提升產(chǎn)品良率及核心競爭力。

產(chǎn)生效益

1)通過失效分析可及時(shí)讓生產(chǎn)商及經(jīng)銷商等了解產(chǎn)品狀況,并對(duì)其產(chǎn)品失效提供有效預(yù)防政策;2)提供產(chǎn)品及工藝改進(jìn)意見,提升產(chǎn)品良率及產(chǎn)品競爭力;3)明確引起復(fù)合材料產(chǎn)品失效的責(zé)任方,為司法仲裁提供依據(jù)。

主要失效模式(但不限于)

開裂、腐蝕、爆板分層、開路(線路、孔)、變色失效等。

常用失效分析技術(shù)手段

無損檢測(cè):X-Ray透視檢查三維CT檢查C-SAM檢查材料成分分析方面:傅立葉變換顯微紅外光譜分析(FTIR)顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)??X射線熒光光譜分析(XRF)氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)核磁共振分析(NMR)?俄歇電子能譜分析(AES)X射線光電子能譜分析(XPS)X射線衍射儀(XRD)飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)材料熱分析方面:差示掃描量熱法(DSC)熱重分析(TGA)熱機(jī)械分析(TMA)動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析(DMA)材料電性能方面:擊穿電壓、耐電壓、介電常數(shù)、電遷移等。?破壞性試驗(yàn)方面:染色及滲透檢測(cè)切片分析:金相切片、聚焦離子束(FIB)制樣、離子研磨(CP)制樣。材料物理性能測(cè)試:拉伸強(qiáng)度、彎曲強(qiáng)度等

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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