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半導(dǎo)體材料成分測(cè)試檢驗(yàn)

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

半導(dǎo)體材料成分檢測(cè)什么單位可以做?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)GB/T 33049-2016 偏光片用光學(xué)薄膜 涂層附著力的測(cè)試方法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對(duì)半導(dǎo)體材料成分檢測(cè)的化學(xué)成分分析、元素分析等項(xiàng)目進(jìn)行檢測(cè)分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的半導(dǎo)體材料成分檢測(cè)報(bào)告。

檢測(cè)項(xiàng)目

化學(xué)成分分析、元素分析、鍵合強(qiáng)度、掃頻振動(dòng)、引出端強(qiáng)度、剪切強(qiáng)度、電離輻照、氣候試驗(yàn)、可焊性等。

適用范圍

元素半導(dǎo)體、無機(jī)化合物半導(dǎo)體、有機(jī)化合物半導(dǎo)體、非晶態(tài)與液態(tài)半導(dǎo)體等。

相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

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GB/T 4937.14-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第14部分:引出端強(qiáng)度

GB/T 4937.19-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第19部分:芯片剪切強(qiáng)度

GB/T 4937.18-2018 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第18部分:電離輻照

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檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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