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信息技術(shù)設(shè)備電磁兼容檢測(cè)檢驗(yàn)項(xiàng)目匯總

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

本文主要列舉了關(guān)于信息技術(shù)設(shè)備電磁兼容的相關(guān)檢測(cè)項(xiàng)目,檢測(cè)項(xiàng)目?jī)H供參考,如果您想針對(duì)自己的樣品讓我們推薦檢測(cè)項(xiàng)目,可以咨詢我們。

1. 電磁兼容測(cè)試:電磁兼容測(cè)試是指對(duì)電子電器設(shè)備在其電磁環(huán)境下互不干擾并且不受外部電磁環(huán)境干擾的能力進(jìn)行檢測(cè)的過(guò)程。

2. 射頻輻射測(cè)試:射頻輻射測(cè)試是用于測(cè)量電子設(shè)備產(chǎn)生的射頻輻射以及測(cè)定其輻射水平是否符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)項(xiàng)目。

3. 電磁干擾測(cè)試:電磁干擾測(cè)試是用于測(cè)定電子設(shè)備在不同電磁環(huán)境下對(duì)其他設(shè)備的干擾程度以及抗干擾能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

4. 傳導(dǎo)干擾測(cè)試:傳導(dǎo)干擾測(cè)試是用于檢測(cè)電子設(shè)備通過(guò)傳導(dǎo)途徑(如電源線、數(shù)據(jù)線等)對(duì)其它設(shè)備產(chǎn)生的干擾水平的檢測(cè)項(xiàng)目。

5. 輻射耐受性測(cè)試:輻射耐受性測(cè)試是用于檢測(cè)電子設(shè)備在外部輻射環(huán)境下的工作狀況和性能穩(wěn)定性的檢測(cè)項(xiàng)目。

6. 電壓浪涌測(cè)試:電壓浪涌測(cè)試是用于測(cè)定電子設(shè)備在電源系統(tǒng)出現(xiàn)電壓波動(dòng)情況下的抗干擾能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

7. 電磁場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)量:電磁場(chǎng)強(qiáng)度測(cè)量是用于測(cè)量電子設(shè)備周?chē)姶艌?chǎng)的強(qiáng)度水平以及確定是否符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)項(xiàng)目。

8. 過(guò)電壓測(cè)試:過(guò)電壓測(cè)試是用于測(cè)試電子設(shè)備在電力系統(tǒng)中出現(xiàn)瞬態(tài)過(guò)電壓情況下的抗干擾能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

9. 電壓暫降測(cè)試:電壓暫降測(cè)試是用于測(cè)試電子設(shè)備在電力系統(tǒng)中出現(xiàn)瞬態(tài)電壓暫降情況下的抗干擾能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

10. 電磁兼容性評(píng)估:電磁兼容性評(píng)估是對(duì)電子電器設(shè)備在特定電磁環(huán)境下的兼容性進(jìn)行評(píng)估和判定的檢測(cè)項(xiàng)目。

11. 電子設(shè)備輻射耐受性測(cè)試:電子設(shè)備輻射耐受性測(cè)試是用于檢測(cè)電子設(shè)備在輻射環(huán)境下的工作可靠性和穩(wěn)定性的檢測(cè)項(xiàng)目。

12. 磁場(chǎng)干擾測(cè)試:磁場(chǎng)干擾測(cè)試是用于測(cè)定電子設(shè)備在不同磁場(chǎng)強(qiáng)度下的工作穩(wěn)定性以及抗干擾能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

13. 電子設(shè)備共模抑制能力測(cè)試:電子設(shè)備共模抑制能力測(cè)試是用于檢測(cè)電子設(shè)備對(duì)共模干擾信號(hào)的抑制能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

14. 電涌測(cè)試:電涌測(cè)試是用于測(cè)定電子設(shè)備在電力系統(tǒng)突發(fā)電涌情況下的抗干擾能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

15. 地面回波測(cè)試:地面回波測(cè)試是用于測(cè)定電子設(shè)備在地面反射波影響下的工作穩(wěn)定性的檢測(cè)項(xiàng)目。

16. 可控電磁環(huán)境測(cè)試:可控電磁環(huán)境測(cè)試是通過(guò)控制電磁場(chǎng)強(qiáng)度和頻率來(lái)模擬外部電磁環(huán)境對(duì)電子設(shè)備的干擾情況的檢測(cè)項(xiàng)目。

17. 電子設(shè)備抗電壓測(cè)試:電子設(shè)備抗電壓測(cè)試是用于檢測(cè)電子設(shè)備在電力系統(tǒng)中受到電壓沖擊時(shí)的抗干擾能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

18. 導(dǎo)電性能測(cè)試:導(dǎo)電性能測(cè)試是用于測(cè)試電子設(shè)備的導(dǎo)電性能以及是否符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)項(xiàng)目。

19. 低頻電磁場(chǎng)耦合測(cè)試:低頻電磁場(chǎng)耦合測(cè)試是用于測(cè)定電子設(shè)備在低頻電磁場(chǎng)作用下的干擾水平以及抗干擾能力的檢測(cè)項(xiàng)目。

20. 高頻電磁場(chǎng)輻射測(cè)試:高頻電磁場(chǎng)輻射測(cè)試是用于測(cè)量電子設(shè)備在高頻電磁場(chǎng)輻射下的輻射水平以及是否符合規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)項(xiàng)目。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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