石英晶體諧振器的定義
簡(jiǎn)稱石英晶體或晶振，石英晶體是壓電晶體的一種，利用石英晶體的壓電效應(yīng)實(shí)現(xiàn)頻率控制、穩(wěn)定或選擇，所制成的電子元器件包括石英晶體諧振器、石英晶體振蕩器和石英晶體濾波器。
根據(jù)引線狀況可分為直插（有引線）與表面貼裝（無(wú)引線）兩種類型。
石英晶體諧振器的作用
主要特征是其原子或分子有規(guī)律排列，反映在宏觀上是外形的對(duì)稱性，在電場(chǎng)的作用下，晶體內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力而形變，從而產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)，獲得特定的頻率。
石英晶體諧振器AEC-Q200認(rèn)證檢測(cè)項(xiàng)目
應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：573pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：UserSpec.用戶規(guī)格
測(cè)試要求：需在25±5°C進(jìn)行測(cè)試，除了適用的應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和表2中的附加要求指定之外。
高溫存儲(chǔ)測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：77pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202&sp; &sp; Method 108
測(cè)試要求：不通電，在大額定溫度下放置器件1000小時(shí)。試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
溫度循環(huán)測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：77pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JES D22&sp; &sp; Method JA-104
測(cè)試要求：1000個(gè)循環(huán)（-55°C到+125°C）；試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。 每個(gè)溫度的停留時(shí)間不超過(guò)30分鐘，轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過(guò)1分鐘。
偏高濕度測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：77pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202&sp; &sp; Method103
測(cè)試要求：在溫度85°C，濕度85%的條件下放置1000小時(shí)；施加額定的VDD和1MΩ，并聯(lián)逆變器，在每個(gè)晶體腳和GND之間有2X的晶體CL電容器，試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
工作壽命測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：77pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202Method108
測(cè)試要求：（1000h）穩(wěn)定狀態(tài)TA=125°，如果85℃的產(chǎn)品，應(yīng)在其溫度下進(jìn)行。施加額定的VDD和1MΩ，并聯(lián)逆變器，在每個(gè)晶體腳和GND之間有2X的晶體CL電容器； 試驗(yàn)結(jié)束后24±4小時(shí)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
外觀
測(cè)試數(shù)量：573pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-883 Method 2009
測(cè)試要求：檢查器件結(jié)構(gòu)，標(biāo)識(shí)和工藝質(zhì)量，不要求電氣測(cè)試。
尺寸
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：JESD22MethodJB-100
測(cè)試要求：按適用的器件規(guī)格驗(yàn)證物理尺寸。注意：用戶和供應(yīng)商規(guī)格，不要求電氣測(cè)試。
端子強(qiáng)度 （引腳）測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202 Method-211
測(cè)試要求：只進(jìn)行引腳和引腳牢固性測(cè)試。條件A(2.27g), C (227g)
溶劑抵抗測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：5pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202&sp; &sp; Method 215
測(cè)試要求：注意適用于被標(biāo)識(shí)和/或涂層的器件。增加水洗清洗劑-OKEM清洗劑（6%濃度的Oakite清洗劑（表面活性劑及堿的混合物，包括苛性鈉、硅酸鹽及磷酸鹽））或其它相同的溶劑。
機(jī)械沖擊測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202&sp; &sp; Method 213
測(cè)試要求：條件C
振動(dòng)測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202Method204
測(cè)試要求：測(cè)試頻率從10-2000赫茲，5g/s的力20分鐘，三個(gè)方向每個(gè)方向12個(gè)循環(huán)。
抗焊接熱試驗(yàn)
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202Method210
測(cè)試要求：260±5℃，時(shí)間10±1s，浸入深度1.27mm
可焊性試驗(yàn)
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：J-STD-002
測(cè)試要求：用于引腳和表面貼裝元件，不需要電氣測(cè)試，放大50倍。 引腳產(chǎn)品方法A&sp; &sp; @ 235℃&sp; 表面貼裝元件 方法B 4小時(shí)、155℃ 、干熱235℃ 和 方法B215℃
電氣特性測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：用戶規(guī)格書
測(cè)試要求：按批次和樣品數(shù)量要求進(jìn)行參數(shù)試驗(yàn)，總結(jié)列出室溫下及低，高工作溫度下器件的小值，大值，平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。至少要測(cè)量低溫度/室溫/高溫度下的參數(shù)CP,DF,IR。見(jiàn)參數(shù)表格中的建議。
可燃性試驗(yàn)
測(cè)試數(shù)量：20pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：UL-94
測(cè)試要求：V-0 或 V-1 可接受
板彎曲試驗(yàn)
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：AEC-Q200-005
測(cè)試要求：只適用于MLCC,至少60秒的支撐時(shí)間
端子強(qiáng)度（表面貼裝元件）測(cè)試
測(cè)試數(shù)量：30pcs
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：AEC-Q200-006
測(cè)試要求：標(biāo)準(zhǔn)要求規(guī)定
注意：預(yù)前應(yīng)力電氣測(cè)試也作為電氣特性。1000小時(shí)試驗(yàn)過(guò)程中需要在250和500小時(shí)進(jìn)行間隔測(cè)量。
檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
