晶體結構分析范圍
二氧化錳，鋁，鎢酸錳，銅粉，氯化鈉，螢石，金屬，石膏，鍍層，氧化鋯，mof，金剛石，聚合物，白云石，粉末固體制劑，負膨脹材料，金屬間化合物，磁性羥基磷灰石，礦物，聚丙烯腈基碳纖維石墨化等。
晶體結構分析項目
xrd晶體結構分析，X射線晶體結構衍射分析，XRD圖譜分析，晶體結構分析檢測，晶體結構形貌分析，晶體結構分析測定，晶體結構特征分析，晶體結構缺陷分析，電子衍射晶體結構分析，tem晶體結構分析，傅里葉變換晶體結構分析等。（更多分析范圍及項目，您可以與我們實驗室工程師溝通，為您詳細解答。）
分析報告有哪些用途?
1、銷售使用。
2、研發(fā)使用。
3、改善產品質量。
4、科研論文數(shù)據(jù)使用。
5、質量控制使用。
晶體結構分析標準
DIN 50434-1986半導體材料的檢驗; 單晶硅試樣的 和 蝕面上晶體結構缺陷的測定
JY/T008-1996 JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
