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金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量

射線光譜方法

1范圍

警告﹔本標(biāo)準(zhǔn)不包括人員防X射線輻射的問題,關(guān)于此重要方面的信息,可參考現(xiàn)行的國際和國家標(biāo)準(zhǔn)及地方法規(guī)。

1.1本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法。

1.2本標(biāo)準(zhǔn)所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度﹐則測量結(jié)果也可用覆蓋層的線性厚度表示。

1.3 本測量方法可同時(shí)測量三層覆蓋層體系,或同時(shí)測量三層組分的厚度和成分。

1.4︰給定覆蓋層材料的實(shí)際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度,而且因所用儀器設(shè)備和操作規(guī)程而不同。

檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)

檢測流程步驟

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