元器件試驗(yàn)檢測(cè)報(bào)告測(cè)試哪些項(xiàng)目？檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格是多少呢？檢測(cè)時(shí)間需要多久呢？下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)元器件試驗(yàn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。做檢測(cè)，上百檢！我們只做真實(shí)檢測(cè)。
檢測(cè)周期
一般3-15個(gè)工作日，可加急。
檢測(cè)方式
可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。
檢測(cè)費(fèi)用
具體根據(jù)檢測(cè)樣品數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目一覽表（參考）
| 序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 1031 | 元器件試驗(yàn) | 溫度貯存 |
| 2 | 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB 360B-2009 方法108 | 元器件試驗(yàn) | 溫度貯存 |
| 3 | 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 1008.1 | 元器件試驗(yàn) | 溫度貯存 |
| 4 | 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 方法1051 | 元器件試驗(yàn) | 溫度循環(huán) |
| 5 | 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB 360B-2009 方法107 | 元器件試驗(yàn) | 溫度循環(huán) |
| 6 | 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1 | 元器件試驗(yàn) | 溫度循環(huán) |
| 7 | 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 方法1038，1039 | 元器件試驗(yàn) | 老煉試驗(yàn) |
| 8 | 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB 360B-2009 方法108 | 元器件試驗(yàn) | 老煉試驗(yàn) |
| 9 | 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法1015.1 | 元器件試驗(yàn) | 老煉試驗(yàn) |
| 10 | 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 方法1071 | 元器件試驗(yàn) | 密封性檢測(cè) |
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檢測(cè)流程步驟
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