標準分類中，俄歇能譜涉及到分析化學、電學、磁學、電和磁的測量、光學設(shè)備、光學和光學測量、無損檢測、電子元器件綜合、金屬材料試驗。
在中國標準分類中，俄歇能譜涉及到基礎(chǔ)標準與通用方法、綜合檢測系統(tǒng)、電子光學與其他物理光學儀器、化學、化學助劑基礎(chǔ)標準與通用方法、光學檢測儀器、標準化、質(zhì)量管理、金屬化學分析方法綜合。
市場監(jiān)督管理總局、中國標準化管理委員會，關(guān)于俄歇能譜的標準
GB/T 36533-2018 硅酸鹽中微顆粒鐵的化學態(tài)測定 俄歇電子能譜法
GB/T 36504-2018 印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜
中華人民共和國質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國標準化管理委員會，關(guān)于俄歇能譜的標準
GB/T 32998-2016 表面化學分析 俄歇電子能譜 荷電控制與校正方法報告的規(guī)范要求
GB/T 32565-2016 表面化學分析 俄歇電子能譜(AES)數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求
質(zhì)檢總局，關(guān)于俄歇能譜的標準
GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜檢測中確定檢測信號對應(yīng)樣品區(qū)域的通則
GB/T 30702-2014 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
GB/T 29556-2013 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
GB/T 29558-2013 表面化學分析 俄歇電子能譜 強度標的重復(fù)性和一致性
GB/T 28893-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息
GB/T 28632-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
GB/T 25187-2010 表面化學分析.俄歇電子能譜.選擇百檢網(wǎng)儀器性能參數(shù)的表述
GB/Z 32494-2016 表面化學分析 俄歇電子能譜 化學信息的解析
標準化組織，關(guān)于俄歇能譜的標準
ISO/TR 18394-2016 表面化學分析. 俄歇電子能譜學. 提取化學信息
ISO/TR 18394-2016 表面化學分析. 俄歇電子能譜學. 提取化學信息
ISO 17109-2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
ISO 16242-2011 表面化學分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報告數(shù)據(jù)
ISO 29081-2010 表面化學分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調(diào)整用報告法
ISO/TR 19319-2003 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
，關(guān)于俄歇能譜的標準
GOST R ISO 16242-2016 確保測量一致性的系統(tǒng). 表面化學分析. 俄歇電子能譜學 (AES) 的記錄和報告數(shù)據(jù)
GOST R ISO 16242-2016 確保測量一致性的系統(tǒng). 表面化學分析. 俄歇電子能譜學 (AES) 的記錄和報告數(shù)據(jù)
英國標準學會，關(guān)于俄歇能譜的標準
BS ISO 17109-2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
BS ISO 17109-2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
BS ISO 16242-2011 表面化學分析.俄歇電子能譜術(shù)的記錄和報告數(shù)據(jù)(AEC)
BS ISO 16242-2011 表面化學分析.俄歇電子能譜術(shù)的記錄和報告數(shù)據(jù)(AEC)
BS ISO 20903-2011 表面化學分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學.測定峰強度的方法和報告結(jié)果要求的信息
BS ISO 20903-2011 表面化學分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學.測定峰強度的方法和報告結(jié)果要求的信息
BS ISO 29081-2010 表面化學分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調(diào)整用報告法
法國標準化協(xié)會，關(guān)于俄歇能譜的標準
NF X21-072-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報告數(shù)據(jù)
NF X21-058-2006 表面化學分析.俄歇電子能譜學和X射線光電子光譜法.測定峰強度使用的方法和報告結(jié)果時需要的信息
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于俄歇能譜的標準
ASTM E984-2012 用俄歇電子能譜法鑒別化學效應(yīng)和基體效應(yīng)的標準指南
ASTM E995-2011 在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應(yīng)用背景消除技術(shù)的標準指南
ASTM E996-2010 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數(shù)據(jù)的標準規(guī)程
ASTM E1127-2008 俄歇電子能譜學中的深度壓形的標準指南
ASTM E984-2006 用俄歇電子能譜法鑒別化學效應(yīng)和基體效應(yīng)用標準指南
ASTM E996-2004 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數(shù)據(jù)的標準規(guī)程
ASTM E996-1994(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報告的標準規(guī)程
日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于俄歇能譜的標準
JIS K0167-2011 表面化學分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學.勻質(zhì)材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
韓國標準，關(guān)于俄歇能譜的標準
KS D ISO 19319-2005 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
KS D ISO 19319-2005 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
行業(yè)標準-電子，關(guān)于俄歇能譜的標準
SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標準導則
SJ/T 10457-1993 俄歇電子能譜術(shù)深度剖析標準導則
行業(yè)標準-機械，關(guān)于俄歇能譜的標準
JB/T 6976-1993 俄歇電子能譜術(shù)元素鑒定方法
澳大利亞標準協(xié)會，關(guān)于俄歇能譜的標準
AS ISO 18118-2006 表面化學分析.俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法.均質(zhì)材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數(shù)使用指南
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
