半導體光電器件檢測需要根據標準內指定項目、方法進行，GB國標、行標、外標、企標、地方標準。半導體光電器件檢測項目和標準是什么?第三方檢測機構提供半導體光電器件檢測一站式服務，工程師一對一服務，確認需求、推薦方案、寄樣送檢、出具報告、售后服務，3-15工作日出具報告，歡迎咨詢半導體光電器件檢測服務

檢測周期：常規(guī)3-15個工作日，可加急（特殊樣品除外）

報告樣式：電子版、紙質，中、英文均可。

報告資質：CMA、CNAS

半導體光電器件檢測項目：

檢測項目：

低溫存儲試驗、冷熱沖擊試驗、微米級長度測量、溫度偏置壽命試驗、溫度偏置壽命試驗（脈沖）、溫度循環(huán)偏置試驗、溫度循環(huán)試驗、溫濕度偏壓壽命試驗、溫濕度存儲試驗、高溫存儲試驗

半導體光電器件檢測標準：

檢測標準：

1、JESD22-A103E (October 2015) 高溫存儲試驗

2、JESD22-A105C; Method A、 B (Jan 2004) 溫度循環(huán)偏置試驗

3、IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03) 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

4、JESD22-A106B.01 (Nov 2016) 冷熱沖擊試驗

5、JESD22-A104E(Oct 2014) 溫度循環(huán)試驗

6、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低溫存儲試驗 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)

7、JESD22-A101D (July 2015) 溫濕度偏壓壽命試驗

8、JESD22-A108F (Jul 2017) 溫度、偏置和壽命試驗

9、IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12) 環(huán)境試驗 第2-67部分:試驗方法 試驗Cy:穩(wěn)態(tài)濕熱加速試驗(主要用于部件)

10、GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則

11、JESD 22-A101D 溫濕度存儲試驗 JESD22-A101D (July 2015)

12、IEC60069-2-2 第5版 2007-07 環(huán)境試驗方法 2-2部分 試驗B：高溫

13、IEC 60068-2-14; Test N (Edition 6.0 2009-01) 冷熱沖擊試驗

樣品檢測流程：

1、致電咨詢百檢客服，確認樣品及需求。

2、客服安排工程師對接，根據需求制定檢測方案。

3、確認方案、報價后簽訂合同，安排寄樣檢測。

4、實驗室根據需求，對樣品開展檢測工作。

5、檢測結束，出具樣品檢測報告。

6、如需加急請?zhí)崆芭c工程師或客服進行溝通。

百檢檢測報告用途

銷售：出具檢測報告，提成產品競爭力。

研發(fā)：縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本。

質量：判定原料質量，減少生產風險。

診斷：找出問題根源，改善產品質量。

科研：定制完整方案，提供原始數據。

競標：報告認可度高，提高競標成功率。

檢測項目及檢測標準相關信息就介紹到這里。第三方檢測機構期待與您的合作，詳情請聯系百檢客服。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。