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軍用電子元器件檢測項目及標準列舉

檢測報告圖片樣例

*用電子元器件檢測需要根據(jù)標準內(nèi)指定項目、方法進行,GB國標、行標、外標、企標、地方標準。*用電子元器件檢測項目和標準是什么?第三方檢測機構(gòu)提供*用電子元器件檢測報告辦理,工程師一對一服務(wù),根據(jù)需求選擇對應(yīng)檢測標準及項目,制定檢測方案后安排實驗室寄樣檢測。*用電子元器件檢測服務(wù)

檢測樣品:紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等

報告資質(zhì):CNAS/CMA/CAL

報告周期:常規(guī)3-15個工作日,特殊樣品、檢測項目除外。

檢測費用:根據(jù)檢測項目收費,詳情請咨詢。

*用電子元器件檢測項目:

檢測項目:

光電器件DPA試驗、半導(dǎo)體分立器件DPA試驗、聲表面濾波器DPA試驗、開關(guān)DPA試驗、敏感元件和傳感器DPA試驗、濾波器DPA試驗、電容器DPA試驗、電連接器DPA試驗、電阻器DPA試驗、石英晶體和壓電元件DPA試驗、線圈和變壓器DPA試驗、繼電器DPA試驗、集成電路DPA試驗、X射線檢查、內(nèi)部氣體成份分析、內(nèi)部目檢、制樣鏡檢、外部目檢、密封、引出端強度、掃描電子顯微鏡檢查、玻璃鈍化層的完整性檢查、粒子碰撞噪聲檢測、芯片剪切強度、芯片粘接的超聲檢測、鍵合強度、聲學(xué)掃描顯微鏡檢查、掃描電子顯微鏡(SEM)檢查、玻璃鈍化層完整性檢查

*用電子元器件檢測標準:

檢測標準:

1、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗方法 方法209

2、GJB 4027A-2006 *用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項目1201、1202

3、GJB4027A-2006 掃描電子顯微鏡檢查

4、SJ 20527A-2003 微波組件通用規(guī)范 4.6.3

5、GJB360A-1996 X射線檢查

6、SJ 20527-1995 微波組件總規(guī)范 4.8.1

7、GJB 4027A-2006 *用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006

8、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級*用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 4.3.2

9、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 方法1018

10、SJ20527A-2003 外部目檢

11、GJB360B-2009 X射線檢查

12、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法2010.1、2013、2014或2017.1

13、GJB548B-2005 掃描電子顯微鏡檢查

14、GJB-4027A-2006 *用電子元器件破壞性物理分析

15、GJB 8481-2015 微波組件通用規(guī)范 4.11.3

16、GJB 4152A-2014 多層瓷介電容器及其類似元器件剖面制備及檢驗方法

17、GJB128A-1997 掃描電子顯微鏡檢查

18、SJ 20642-1997 半導(dǎo)體光電模塊總規(guī)范 4.10.11

19、GJB548A-1996 外部目檢

20、GJB91**-1997 外部目檢

檢測流程

1、確認樣品和需求

2、制定方案

3、報價

4、雙方確定,簽訂保密協(xié)議,開始實驗

5、3-15個工作日(特殊樣品除外)完成實驗

6、出具檢測報告,后期服務(wù)。

檢測報告作用:

1、項目招投標:CMA/CNAS資質(zhì)報告;

2、上線電商平臺入駐:質(zhì)檢報告各大電商平臺認可;

3、用作銷售報告:出具具有法律效應(yīng)的檢測報告,讓消費者更放心;

4、論文及科研:提供的個性化檢測需求;

5、司法服務(wù):提供科學(xué)、公正、準確的檢測數(shù)據(jù);

6、工業(yè)問題診斷:驗證工業(yè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題排查和修正;

百檢檢測特點:

1、檢測行業(yè)覆蓋面廣,滿足不同的檢測;

2、實驗室全覆蓋,就近分配本地化檢測;

3、工程師一對一服務(wù),讓檢測更準確

4、免費初檢,初檢不收取檢測費用

5、自助下單 快遞免費上門取樣;

6、周期短,費用低,服務(wù)周到;

7、實驗室CMA、CNAS、CAL資質(zhì);

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

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