晶體諧振器檢測(cè)需要根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)指定項(xiàng)目、方法進(jìn)行，GB國(guó)標(biāo)、行標(biāo)、外標(biāo)、企標(biāo)、地方標(biāo)準(zhǔn)。晶體諧振器檢測(cè)項(xiàng)目和標(biāo)準(zhǔn)是什么?第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供晶體諧振器檢測(cè)報(bào)告辦理，工程師一對(duì)一服務(wù)，根據(jù)需求選擇對(duì)應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目，制定檢測(cè)方案后安排實(shí)驗(yàn)室寄樣檢測(cè)。晶體諧振器檢測(cè)服務(wù)
第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)主要從事紡織品、絕緣、化妝品、食品、五金行業(yè)相關(guān)產(chǎn)品檢測(cè)，以及提供產(chǎn)品認(rèn)證服務(wù)，同時(shí)也在拓寬檢測(cè)行業(yè)范圍，實(shí)驗(yàn)室出具報(bào)告可蓋CNAS/CMA/CAL資質(zhì)章，報(bào)告真實(shí)有效。
晶體諧振器檢測(cè)項(xiàng)目：
檢測(cè)項(xiàng)目：
頻率和等效電阻、低溫、工作溫度范圍、標(biāo)稱頻率、等效電阻、靜態(tài)電容、頻率精度、頻率范圍、頻率范圍f、諧振電阻Rr、諧振頻率F0、溫度頻差、頻率允差、并電容、頻率和等效電阻的測(cè)量、頻率穩(wěn)定度、頻率溫度穩(wěn)定度、頻率、基準(zhǔn)溫度容差FL、等效電阻RR、并電容C0、調(diào)整頻差、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環(huán)、諧振電阻R、諧振頻率F、加工質(zhì)量、可焊性、標(biāo)志、外觀和尺寸檢查、密封、寄生（基頻或泛音晶體元件）、電容量檢測(cè)、外觀尺寸的測(cè)量和檢驗(yàn)、溫度沖擊、絕緣電阻、交變濕熱試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、諧振電阻、諧振頻率、高溫試驗(yàn)、隨機(jī)振動(dòng)、掃頻振動(dòng)、加電老化、沖擊、恒定加速度、熱沖擊、PIND、X射線照相檢驗(yàn)、密封性、外部目檢、內(nèi)部目檢、寄生、低溫存儲(chǔ)、工作溫度范圍和溫度頻差、可工作溫度范圍、并聯(lián)電容、加速老化、晶體諧振器負(fù)載電阻RL、晶體諧振器動(dòng)態(tài)電容Cl、晶體諧振器諧振頻率fr、晶體諧振器諧振電阻Rr、晶體諧振器負(fù)載頻率fL
晶體諧振器檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：
1、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360A-1996
2、GJB 2138-1994 石英晶體元件總規(guī)范 GJB 2138-1994
3、SJ 2052-1982 晶體諧振器負(fù)載電阻RL
4、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005
5、GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
6、GJB 150.3A-2009 *用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第三部分：高溫試驗(yàn) GJB150.3A-2009
7、SJ2052-1982 30兆赫以下石英諧振器頻率和等效電路的測(cè)量方法
8、GJB2138A-2015 石英晶體元件通用規(guī)范 4.6.9
9、GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A: 低溫
10、GJB 2138-1994 石英晶體元件總規(guī)范 4.8.10.4
11、GJB 2138A-2015 石英晶體元件總規(guī)范 GJB 2138A-2015
12、GJB2138A-20154.6.9 頻率允差
13、GBJ- 2138-94 《石英晶體元件總規(guī)范》 GBJ-2138-94
14、GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）
15、GJB2138-1994 石英晶體元件總規(guī)范 3.12
16、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009
17、GJB 150.4A-2009 *用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn) GJB 150.4A-2009
18、GJB 7243-2011 *用電子元器件篩選技術(shù)要求 GJB 7243-2011
19、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB 360B-2009
20、GJB 2138-94 石英晶體元件總規(guī)范 GJB2138-94
百檢檢測(cè)報(bào)告辦理流程：
1、通過(guò)網(wǎng)站聯(lián)系方式與客服進(jìn)行溝通
2、確認(rèn)需求后，推薦并制訂方案，隨后進(jìn)行報(bào)價(jià)
3、確認(rèn)方案及報(bào)價(jià)后，安排樣品郵寄至指定實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行檢測(cè)
4、樣品寄送到實(shí)驗(yàn)室后，等待實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)結(jié)果
5、實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)完畢后出具相應(yīng)報(bào)告，如需紙質(zhì)報(bào)告則安排郵寄
在辦理期間如需加急，需要及時(shí)溝通并安排加急服務(wù)
一份檢測(cè)報(bào)告有什么用?
產(chǎn)品檢測(cè)報(bào)告主要反映了產(chǎn)品各項(xiàng)指標(biāo)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求，能夠?yàn)槠髽I(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺(tái)上架、商超入駐、學(xué)?？蒲刑峁┛陀^的參考。
關(guān)于檢測(cè)詳細(xì)信息可先與百檢客服聯(lián)系，后續(xù)會(huì)安排對(duì)應(yīng)工程師對(duì)接。百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)歡迎您的咨詢，期待與您合作。
檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
