高加速壽命測(cè)試（Highly Accelerated Life Testing，簡(jiǎn)稱HALT測(cè)試）是一種對(duì)電子和機(jī)械裝配件利用快速高、低溫變換的高環(huán)境應(yīng)力來揭示設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。高加速壽命測(cè)試的目的是在，短時(shí)間內(nèi)即可進(jìn)行產(chǎn)品的失效原因分析，可在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞*限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。

HALT以連續(xù)的測(cè)試、失效分析、缺陷改進(jìn)及驗(yàn)證構(gòu)成了整個(gè)程序，而且可能是個(gè)閉環(huán)循環(huán)過程。往往一個(gè)測(cè)試計(jì)劃，需要重復(fù)進(jìn)行幾次，除非一次性能經(jīng)受加速應(yīng)力試驗(yàn)。其關(guān)鍵在于分析失效的根本原因。

測(cè)試目的

· 利用高環(huán)境應(yīng)力將產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷激發(fā)出來，并加以改善；

· 了解產(chǎn)品的設(shè)計(jì)能力及失效模式；

· 作為高應(yīng)力篩選及制定品質(zhì)核查規(guī)格的參考；

· 快速找出產(chǎn)品制造過程的瑕疵；

· 增加產(chǎn)品的可靠性，減少維修成本；

· 建立產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力數(shù)據(jù)庫(kù)，為研發(fā)提供依據(jù)并縮短設(shè)計(jì)制造周期。

實(shí)驗(yàn)室高加速測(cè)試設(shè)備

高加速老化試驗(yàn)機(jī)

測(cè)試能力

實(shí)驗(yàn)室測(cè)試范圍：*低溫度：-70℃，*高溫度：150℃

濕度范圍：60℃/min

高加速壽命試驗(yàn)項(xiàng)目包括

· 低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)；

· 高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)；

· 快速熱循環(huán)試驗(yàn)；

· 振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)；

· 綜合應(yīng)力試驗(yàn)；

· 工作應(yīng)力測(cè)試。

檢測(cè)流程步驟

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