電子元器件可靠性試驗(yàn)是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)，也是電子元件和電小型的的儀器機(jī)器的組成部分，其本身常由若干零件構(gòu)成，可以在同類產(chǎn)品中通用，常指電器、無線電、儀表等工業(yè)零件，如電容、晶體管等子器件的總稱。
電子元器件檢測(cè)項(xiàng)目
機(jī)械沖擊 | 振動(dòng)試驗(yàn) | 正弦振動(dòng) |
隨機(jī)振動(dòng) | 熱沖擊 | 溫度循環(huán) |
恒定濕熱試驗(yàn) | 高溫加速老化試驗(yàn) | 耐鹽霧試驗(yàn) |
氣體腐蝕試驗(yàn) | 防塵性 | 防水性 |
鹽霧腐蝕 | 混合氣體腐蝕 | 太陽光輻射 |
碳弧老化 | 臭氧老化 | 長霉試驗(yàn) |
燃燒試驗(yàn) |
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電子元器件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)》（GB/T 2423.1-2008）
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)》（IEC 60068）
《外殼防護(hù)等級(jí)》（GB/T 4208-2008）
《電子元器件塑料封裝設(shè)備通用技術(shù)條件》（GB T 13947-1992）
《插入式電子元器件用插座及其附件總規(guī)范》（GB T 15176-1994）
《機(jī)械產(chǎn)品及元器件濕熱環(huán)境大氣暴露試驗(yàn)方法和導(dǎo)則》（JB/T 7574-2013）
《機(jī)械產(chǎn)品及元器件寒冷環(huán)境大氣暴露試驗(yàn)方法和導(dǎo)則》（JB/T 7575-2013）
《機(jī)械產(chǎn)品及元器件海洋環(huán)境大氣暴露試驗(yàn)方法和導(dǎo)則》（JB/T 8683-2013）
《環(huán)境試驗(yàn)》（SJ/T 11200-2016）
《電力變壓器》（GB T 1094.1-2013）
檢測(cè)流程步驟
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