- N +

手機(jī)可靠性試驗(yàn)需要哪些設(shè)備

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

一部手機(jī)的生產(chǎn)并不簡(jiǎn)單,不僅僅是流水線上走一遍,組裝完成手機(jī),這個(gè)過(guò)程實(shí)際包含前期設(shè)計(jì)和生產(chǎn)實(shí)現(xiàn),還有大量的測(cè)試工作。對(duì)于手機(jī)、手持平板機(jī)類(lèi)通信或電子產(chǎn)品而言,性能可靠性是關(guān)系到終端用戶體驗(yàn)的重大因素,因此對(duì)于手機(jī)類(lèi)產(chǎn)品的性能可靠性進(jìn)行測(cè)試評(píng)估就顯得尤為重要。定向跌落、滾筒跌落(自由跌落)、桌面跌落(微跌落)、耳機(jī)/數(shù)據(jù)線/充電器插拔測(cè)試、手機(jī)按鍵壽命、滑蓋/翻蓋壽命、觸摸屏點(diǎn)擊壽命等測(cè)試項(xiàng)目是常見(jiàn)的手機(jī)類(lèi)產(chǎn)品性能可靠性的評(píng)估項(xiàng)目。

1、可程式恒溫恒濕箱(整機(jī)耐濕熱、高溫老化、冷溫儲(chǔ)存試驗(yàn))-70~150。

2、冷熱沖擊試驗(yàn)箱(用于產(chǎn)品研發(fā),整機(jī)、電路板及電子元件篩選)低溫-70高溫150。

3、靜電放電發(fā)生器(用于產(chǎn)品研發(fā),電路板上電子元件在儲(chǔ)運(yùn)、裝配及較為干燥環(huán)境使用時(shí),可能因靜電導(dǎo)致?lián)p壞)靜電電壓20KV(正、負(fù))。

4、鹽霧試驗(yàn)箱(用于模擬手機(jī)真實(shí)使用情況耐汗、潮濕及含鹽環(huán)境)。

5、紫外燈(UV)試驗(yàn)箱(用于模擬手機(jī)曝曬環(huán)境,手機(jī)放在烈日下的汽車(chē)?yán)?、郊外、沙灘使用時(shí)遇到的情況)。

6、砂塵試驗(yàn)箱(用于模擬手機(jī)在沙漠地帶、多沙、多塵等惡劣環(huán)境在使用情況)。

7、落球沖擊試驗(yàn)機(jī)(用于手機(jī)外殼涂料及殼體抗沖擊測(cè)試)鋼球重量100、200、300、500、1000、2000g沖擊高度200~2000mm。

8、電動(dòng)振動(dòng)試驗(yàn)(用于產(chǎn)品研發(fā),模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程中的振動(dòng)環(huán)境,提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)及裝配過(guò)程存在的缺陷)頻率5000Hz位移25mm電腦控制。

9、紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)(用于手機(jī)表面噴涂耐磨性能測(cè)試)介質(zhì)3M紙帶荷重275、175、55g。

10、印刷體耐磨擦試驗(yàn)機(jī)(用于手機(jī)表面噴涂耐磨、劃痕性能測(cè)試)介質(zhì)酒精棉布、鉛筆、橡皮擦荷重80~1000克。

11、按鍵壽命測(cè)試機(jī)(用于手機(jī)鍵盤(pán)之疲勞測(cè)試)荷重80克~500克。

12、手機(jī)翻蓋壽命測(cè)試機(jī)(用于手機(jī)轉(zhuǎn)軸及上下蓋連接部分掀合可靠性測(cè)試)角度5~1800速率5~60次。

13、手機(jī)跌落測(cè)試機(jī)(用于模擬手機(jī)在使用環(huán)境中落下之真實(shí)情況)介質(zhì)水泥地板、壓克力板、鋼板跌落高度。

14、手機(jī)抗壓測(cè)試機(jī)(用于模擬手機(jī)外殼、LCD在使用時(shí)被擠壓之真實(shí)情況)壓力數(shù)字顯示,緩慢施壓、突然施壓兩種方式選擇。

以上為常見(jiàn)的手機(jī)可靠性測(cè)試項(xiàng)目徐亞用到的設(shè)備,智能手機(jī)行業(yè)發(fā)展已經(jīng)非常成熟,更考驗(yàn)的是廠家的實(shí)力,龐大的研發(fā)和生產(chǎn)團(tuán)隊(duì),設(shè)備都是需要持續(xù)大量的投入。手機(jī)可靠性關(guān)系著手機(jī)品質(zhì)保障,只有經(jīng)過(guò)大量的品質(zhì)實(shí)驗(yàn)、環(huán)境實(shí)驗(yàn)、破壞性實(shí)驗(yàn)、壽命老化實(shí)驗(yàn)、電性能測(cè)試、結(jié)構(gòu)測(cè)試、兼容性測(cè)試才能確保產(chǎn)品品質(zhì)可靠。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

返回列表
上一篇:什么是鹽霧腐蝕
下一篇:掃描電鏡&能譜(SEM&EDS)分析