80%的電子產(chǎn)品損壞大都來源于跌落碰撞，研發(fā)人員往往耗費大量的時間和成本，針對產(chǎn)品做相關(guān)的質(zhì)量試驗，常見的可靠性測試就是跌落試驗。跌落試驗是為了電子產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面與不同的高度跌落于地面時的情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評估產(chǎn)品包裝組件在跌落時所能承受的墮落高度及耐沖擊強(qiáng)度，從而根據(jù)產(chǎn)品實際情況及國家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計。

跌落試驗的方法有：

跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。

對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品(如手機(jī),MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。試驗的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

跌落測試的原理——將包裝件按規(guī)定高度跌落于堅硬、平整的水平面上，評定包裝件承受垂直沖擊的能力和包裝對內(nèi)裝物保護(hù)能力的測試。跌落測試，又名drop test/HG-318。

跌落測試參考標(biāo)準(zhǔn)

GB／T 4857.1-2019 包裝 運輸包裝件基本試驗 第1部分：試驗時各部位的標(biāo)示方法

GB/T 4857.23-2012 包裝 運輸包裝件基本試驗 第23部分：隨機(jī)振動試驗方法

GB/T 4857.5-1992 包裝 運輸包裝件 跌落試驗方法

GB/T 4857.17-2017 包裝 運輸包裝件基本試驗 第17部分：編制性能試驗大綱的通用規(guī)則

GBT4857.18-1992包裝 運輸包裝件 編制性能試驗大綱的定量數(shù)據(jù)

是已獲得CNAS和CMA資質(zhì)認(rèn)可的第三方檢測機(jī)構(gòu)，自有大型可靠性檢測實驗室，可提供高溫測試、低溫測試、高低溫沖擊、快速溫變測試、交變濕熱測試、恒溫恒濕測試、溫濕度循環(huán)測試、三綜合試驗、振動測試、沖擊測試、跌落測試、鹽霧測試、光照老化、IP防塵防水等可靠性測試服務(wù)。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。